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推動冶金礦山發(fā)展，X射線熒光光譜儀改善礦山環(huán)境狀況

返回列表 來源：儀德發(fā)布日期： 2021.12.09

國家新基建政策以來，不斷推動冶金礦山發(fā)展。而對于冶金礦山的發(fā)展來說，具備良好的分析技術(shù)十分重要，擁有分析技術(shù)合理性和科學(xué)性，生產(chǎn)出優(yōu)質(zhì)原料。當(dāng)前，X熒光分析方法在環(huán)境分析中也作為一種重要的分析手段存在。因此，在礦山的污染治理中，X射線熒光光譜儀將會促進(jìn)礦山環(huán)境狀況的改善，在保證環(huán)境不被污染的情況下，充分利用X射線熒光光譜儀實(shí)現(xiàn)對礦山的推動發(fā)展。

手持式X射線熒光光譜儀

適合現(xiàn)場環(huán)境分析的光譜儀
——手持式X射線熒光光譜儀SPECTRO xSORT

近年來科學(xué)的迅速發(fā)展，使得我國逐漸出現(xiàn)了眾多精密的分析測試儀器。其中一種便是手持式X射線熒光光譜儀。

其特點(diǎn)表現(xiàn)在以下幾點(diǎn):
(1)良好的PPM級精度檢測。延長檢測時(shí)間甚至可以對砷，鎘，銅，鉛，汞及所選擇的污染進(jìn)行PPM級精確的分析。

(2)高速的“熱點(diǎn)”檢測。SPECTRO xSORT光譜儀顯示結(jié)果的速度是同類儀器的兩倍！在幾秒內(nèi)即可獲得精確的初步測量結(jié)果。即使對于原來需要幾天時(shí)間才能完成的較大的面積區(qū)域的環(huán)境評估或大量的廢料篩選也只需幾小時(shí)就可完成。

(3)無需復(fù)雜的樣品制備。對復(fù)雜基體的環(huán)境類樣本提供快速直接的元素測量和光譜化學(xué)成分分析。

具體應(yīng)用

X射線熒光光譜儀很早便在我國冶金工業(yè)中廣泛應(yīng)用。黑色冶金礦山通常是表示錳礦、釩鈦磁鐵礦、鉻鐵礦、鐵礦，依照其要求，不僅需要對鐵、鉻、鈦、錳元素進(jìn)行分析，同時(shí)也需要分析鈣、鎂、鋁等元素。且這些元素都可以采用X熒光儀進(jìn)行分析，我們將采用X熒光儀測定和采用化學(xué)法進(jìn)行測定所得的結(jié)果進(jìn)行比較，分析的資料見表1。

表1 幾種礦石分析結(jié)果比較

分析表1我們能夠看出，兩種測定方法相比較，X射線熒光光譜儀測定值大多數(shù)的誤差都在規(guī)定的范圍內(nèi)。一般情況下，化學(xué)法分析的精確度較高，但是操作的時(shí)間卻過長，對環(huán)境產(chǎn)生的危害也十分嚴(yán)重。而X射線熒光光譜儀應(yīng)則避免了這種缺點(diǎn)，比如在測定全鐵時(shí)，整個(gè)過程僅需要短時(shí)間便能夠完成，且不使用任何添加劑。同時(shí)，X熒光和化學(xué)法比較，選礦精礦的絕對誤差低于0.5%，尾礦低于0.3%，采場原礦低于0.5%。均滿足實(shí)驗(yàn)室抽查誤差范圍內(nèi)的要求。