020-87026501
硬件最安全、軟件最安心、維護最方便
萬一的失誤導致儀器損壞令人十分痛心。高性能的精密分析儀器ZSX PrimusIV設計為即便粉末樣品發(fā)生粉末飛散也不會損壞儀器的上照射方式。在軟件上也設計為防止操作失誤的用戶分級管理方式。
即便粉末樣品松散下落也不會污染光學系統(tǒng)-上照射方式
因為采用上照射方式粉末壓片樣品的粉末飛散、下落也不會貴給光學系統(tǒng)造成影響。也不需要粘貼樣品保護薄膜。
新技術的采用和精細的設計-奠定
ZSX PrimusIV的各組件都使用著最先端的要素技術，加之微細處因此，無論是對要求高精細的研究，還是對大量測量的日常質量。
液體樣品分析用真空封擋系統(tǒng)
在樣品室和分析室之間以隔壁封擋方式自動置換氦氣，大幅度縮短了由真空向氦氣光路的置換時間。
液體樣品盒自動識別機構
分析液體樣品時，樣品室需要置換成He氣氛圍。通過液體樣品盒自動識別機構可以避免液體樣品盒在真空狀態(tài)下進入樣品室，從而放心地測量液體樣品。
樣品盒位置一目了然
樣品臺正面和右側面均為透明窗，所以坐在計算機前操作儀器的同時可以一-目了然地確認分析樣品的位置。
可以選配測量輕元素的氣體封閉型正比計數器(S-PCLE)。方便在難以購置PR氣體的地方使用。注:使用F-PC檢測器時，必須使用檢測器用氣體(PR氣體)
玻璃熔片時由于坩堝之間底部形狀的差異造成的影響、粉末壓片時樣品表面凹凸的影響等都可通過此光學系統(tǒng)予以校準,得到更加準確的分析。
可配置PET彎晶和Ge彎晶。高靈敏度Ge彎晶與平晶相比，對P、S的靈敏度提高了30%;高靈敏度PRT彎晶與平晶相比，Al、Si的靈敏度提高了30%。也可以使用在SQX程序中，提高無標樣定量分析的靈敏度。
設置在X射線光管和樣品之間，用于減輕X射線光管發(fā)出的連續(xù)X射線或特征X射線對分析譜線的妨礙。
本文標簽： 波長色散型x射線光譜儀 波長色散X射線光譜儀特點
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