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  • 日立X-Strata920 鍍層測(cè)厚儀,臺(tái)式XRF鍍層測(cè)厚儀

日立X-Strata920 鍍層測(cè)厚儀,臺(tái)式XRF鍍層測(cè)厚儀

X-Strata920 是一款高精度臺(tái)式 XRF 鍍層測(cè)厚儀,具有多種選擇,可容納多種類型的樣品。該分析儀非常適合測(cè)量各種基材上的涂層,適合用于確定產(chǎn)品質(zhì)量的電子產(chǎn)品、連接器、裝飾品和珠寶分析
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臺(tái)式 XRF 鍍層測(cè)厚儀

X-Strata920 是一款高精度臺(tái)式 XRF 鍍層測(cè)厚儀,具有多種選擇,可容納多種類型的樣品。該分析儀非常適合測(cè)量各種基材上的涂層,適合用于確定產(chǎn)品質(zhì)量的電子產(chǎn)品、連接器、裝飾品和珠寶分析。


X-Strata920 的優(yōu)勢(shì)在于其多功能性。您可以從多種配置中進(jìn)行選擇,包括五種基本配置以適應(yīng)不同尺寸的樣品、六種準(zhǔn)直器尺寸用于優(yōu)化分析不同尺寸的特征,以及有助于加快測(cè)量過(guò)程同時(shí)保持準(zhǔn)確性的附加自動(dòng)化功能。X-Strata920 易于使用,軟件直觀,可由非專業(yè)人員操作,并可輕松融入您的生產(chǎn)或質(zhì)量保證部門。


技術(shù)規(guī)格


最大化精度,最小化浪費(fèi)


當(dāng)決定產(chǎn)品成敗的差異小于1微米時(shí),請(qǐng)選擇X-Strata920進(jìn)行精確鍍層分析


如果您在電子產(chǎn)品或金屬表面處理行業(yè)工作,我們可提供適于您業(yè)務(wù)的解決方案。X-Strata920具有多種配置選擇,可分析單鍍層和多鍍層(包括合金層)。


我們的內(nèi)部專家會(huì)對(duì)常規(guī)和復(fù)雜鍍層結(jié)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試及測(cè)量,確保您獲得可靠、可重復(fù)結(jié)果以滿足數(shù)百種應(yīng)用,包括:PCB表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表面處理、耐磨損處理、耐高溫性等。


X-Stata920提供四種基臺(tái)配置以適應(yīng)任意形狀的零件。帶有標(biāo)準(zhǔn)或?qū)捁潭ɑ_(tái)的開(kāi)槽的樣品艙適合處理小型零件或長(zhǎng)而薄的樣品,而加深樣品艙則可靈活測(cè)量較高的零件。選擇程控樣品臺(tái),可自動(dòng)測(cè)量多個(gè)樣品或單個(gè)組件上的各個(gè)位置。


X-Strata920


為工作選擇正確的工具


通過(guò)選擇比例計(jì)數(shù)器或硅漂移探測(cè)器(SDD),可確保擁有正確配置。


比例計(jì)數(shù)器適用于大多數(shù)應(yīng)用場(chǎng)合,但對(duì)于含有少量種類元素的簡(jiǎn)單鍍層結(jié)構(gòu)而言,其效果最佳。當(dāng)您需要分析更復(fù)雜的鍍層結(jié)構(gòu)或需要測(cè)量非常薄的鍍層(<0.05μm)時(shí),推薦使用SDD。


X-Strata920 這一出色的工具可確保樣品符合規(guī)格,同時(shí)通過(guò)避免過(guò)度電鍍?cè)斐傻幕瘜W(xué)品浪費(fèi)和減少電鍍不足造成的廢料和返工來(lái)降低成本。操作員只需加載樣品,將其定位在屏幕上的目標(biāo)下方,使用激光焦點(diǎn)對(duì)齊,即可開(kāi)始測(cè)量。結(jié)果在幾秒內(nèi)即

可顯示出來(lái),然后操作員可快速執(zhí)行下一個(gè)任務(wù)。


這意味著您可確保在操作中最大限度地提高生產(chǎn)力。得益于通過(guò)可追溯標(biāo)準(zhǔn)打造的優(yōu)化校準(zhǔn)方式,您將對(duì)結(jié)果的準(zhǔn)確性充滿信心。


使用X-Strata920可遵從各種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568和DIN 50987。


鍍層測(cè)厚儀


產(chǎn)品亮點(diǎn)


X-Strata920 具有多種選項(xiàng)和多功能性,可容納各種樣品,每次都能提供精確的分析。


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