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廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司

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粵儀厚德-廣州儀德

熱門關(guān)鍵詞： 手持式光譜儀 直讀光譜儀 便攜式光譜儀 油料光譜儀 輝光放電直讀光譜儀 手持式鋰礦石光譜儀

搜索結(jié)果

新品速遞 | 德國(guó)斯派克推出新一代 SPECTRO xSORT XHH04

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新版SPECTROxSORT手持式熒光（ED-XRF）光譜儀是德國(guó)斯派克分析儀器公司結(jié)合自身對(duì)行業(yè)應(yīng)用的透徹領(lǐng)悟和現(xiàn)場(chǎng)金屬測(cè)量領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗(yàn)，厚積薄發(fā)打造的一款創(chuàng)新型便攜式熒光光譜分析儀。集一系列實(shí)用功能和創(chuàng)新設(shè)計(jì)為一身，在大幅提高用戶的分析速度、保證易用性和操作便利性的同時(shí)，保持了德國(guó)制造的優(yōu)異分析性能。
日立FT110A臺(tái)式XRF鍍層測(cè)厚儀，鋅層測(cè)厚儀

日立FT110A臺(tái)式XRF鍍層測(cè)厚儀，鋅層測(cè)厚儀

FT110A是一款臺(tái)式XRF分析儀，旨在應(yīng)對(duì)生產(chǎn)中鍍層分析的挑戰(zhàn)。強(qiáng)大的X射線熒光技術(shù)與自動(dòng)定位功能相結(jié)合，有助于提高電鍍車間的生產(chǎn)力，同時(shí)確保組件符合嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn)。
日立X-Strata920 鍍層測(cè)厚儀，臺(tái)式XRF鍍層測(cè)厚儀

日立X-Strata920 鍍層測(cè)厚儀，臺(tái)式XRF鍍層測(cè)厚儀

X-Strata920是一款高精度臺(tái)式XRF鍍層測(cè)厚儀，具有多種選擇，可容納多種類型的樣品。該分析儀非常適合測(cè)量各種基材上的涂層，適合用于確定產(chǎn)品質(zhì)量的電子產(chǎn)品、連接器、裝飾品和珠寶分析
日立EA1280 臺(tái)式熒光光譜儀，XRF分析儀

日立EA1280 臺(tái)式熒光光譜儀，XRF分析儀

EA1280是日立專為RoHS有害物質(zhì)限制設(shè)計(jì)的XRF分析儀，15年來(lái)一直受到信任，為需要遵守本指令的企業(yè)提供一致的結(jié)果。通過(guò)對(duì)有害物質(zhì)的簡(jiǎn)單快速的測(cè)量，您可以確保能夠滿足環(huán)境法規(guī)的要求。為什么選擇日立XRFRoHS分析儀?操作方便可自動(dòng)采樣靈活校準(zhǔn)以適應(yīng)新的RoHS標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)突出顯示您正在分析的內(nèi)容以獲得可瀏覽的結(jié)果快......
日立EA1000AIII 臺(tái)式X射線熒光光譜儀，臺(tái)式XRF熒光分析儀

日立EA1000AIII 臺(tái)式X射線熒光光譜儀，臺(tái)式XRF熒光分析儀

EA1000AIII旨在加速和簡(jiǎn)化生產(chǎn)環(huán)境中的RoHS測(cè)試。該分析儀有助于滿足當(dāng)前的RoHS、EN71和無(wú)鹵素指令，并允許隨著指令的變化更新物質(zhì)控制標(biāo)準(zhǔn)。
手持式XRF涂層測(cè)厚儀 德國(guó)斯派克

手持式XRF涂層測(cè)厚儀 德國(guó)斯派克

德國(guó)斯派克手持式涂層光譜儀應(yīng)用于包括Cr+純化，耐指紋，磷化膜等化學(xué)處理膜層厚度測(cè)度；模具鋼、鎢鋼等材料表面釩(V)鍍層、鉻(Cr)鍍層或鈦(Ti)鍍層等金屬鍍層膜厚測(cè)試。
偏振能量色散X熒光分析儀 OCUBE ED-XRF

偏振能量色散X熒光分析儀 OCUBE ED-XRF

CUBE型ED-XRF分析儀為各種應(yīng)用提供簡(jiǎn)單、可靠、準(zhǔn)確、高通量的分析同類產(chǎn)品中測(cè)試速度出類拔萃：高速高精度，是典型測(cè)試速度的兩倍應(yīng)用范圍廣和準(zhǔn)確度高：優(yōu)化的應(yīng)用程序包簡(jiǎn)單易用：只需三個(gè)簡(jiǎn)單步驟即可獲得準(zhǔn)確的結(jié)果。
小型臺(tái)式X射線熒光光譜儀 RoHS分析儀

小型臺(tái)式X射線熒光光譜儀 RoHS分析儀

小臺(tái)式X射線熒光光譜儀 RoHS分析儀選配的樣品測(cè)試吊艙可將儀器轉(zhuǎn)化為臺(tái)式EDXRF，在保障任何樣品測(cè)試輻射安全的同時(shí)，極大的提升設(shè)備對(duì)極微小樣品測(cè)試能力并取得更低的檢測(cè)下限。
手持式XRF涂層測(cè)厚儀 便攜式XRF涂層測(cè)厚儀

手持式XRF涂層測(cè)厚儀 便攜式XRF涂層測(cè)厚儀

用途：1.涂層測(cè)厚，包括Cr+純化，耐指紋，磷化膜等化學(xué)處理膜層厚度測(cè)試   2.模具鋼、鎢鋼等材料表面釩(V)鍍層、鉻(Cr)鍍層或鈦(Ti)鍍層等金屬鍍層膜厚測(cè)試。
手持式光譜儀 手持式xrf合金分析儀 手持式金屬材料分析儀

手持式光譜儀 手持式xrf合金分析儀 手持式金屬材料分析儀

手持X射線熒光光譜儀xSORT對(duì)金屬冶煉，金屬鑄造，機(jī)械加工，廢舊金屬回收，金屬壓力容器（管道/閥門），PMI等金屬應(yīng)用;食品安全/環(huán)保（土壤環(huán)境監(jiān)測(cè)，RoHS/WEEE有毒有害物質(zhì)管控），地質(zhì)勘探，礦產(chǎn)貿(mào)易，玩具檢測(cè)、考古分析、應(yīng)急檢測(cè)等行業(yè)的復(fù)雜應(yīng)用，xSORT（全功能）可以在幾秒鐘的單一分析周期內(nèi)完成從AL-U等多種元素的分析，并產(chǎn)生媲美實(shí)驗(yàn)室的分析結(jié)果。
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